Система контроля качества полупроводниковых бескорпусных приборов

Решение:

Программно-аппаратная система для автоматической оценки качества изготовления полупроводниковых бескорпусных приборов и кристаллов радиоэлектронных средств в видимом диапазоне длин волн по данным от электронных микроскопов

Особенности:

• Обнаруживает 15 типов дефектов и покрытий (царапины, пустоты в металлизации, трещины, дефекты фолитографии, брызги и т.д.) различает 3 топологии кристаллов
• Автоматическая отбраковка согласно технической документации предприятия по контролю качества
• Автоматическое дообучение в процессе работы оператора

Эффект:

1. Точность оценки качества микроэлектронных компонентов составляет 95%
2. Сокращение продолжительности контроля качества в 10 раз за счет применения ИИ-ассистента на базе технического зрения